微米瑕疵無所遁形｜UIH 系列超高輝度檢測照明，點亮精密制造質檢新高度

發布日期：2026-05-29      瀏覽次數：90

在半導體、光學玻璃、精密元器件等高1端制造領域，1μm 以下微氣泡、微劃痕、內部異物、表面霧度，一直是困擾目視檢測的 “隱形殺手"。普通照明亮度不足、光路不均、易漏檢誤檢，嚴重拉低良率與品質。

日本インテックス匠心打造的UIH 系列超高輝度檢測用照明裝置，以丁達爾效應為核心，用極1致強光與專業光學設計，讓微缺陷清晰顯形，人人都能快速、穩定完成高精度目視檢測，成為產線與實驗室的質檢利器。

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一、核心優勢：強光 + 專業光學，缺陷一眼可見

1. 超高亮度，擊穿盲區

• 采用定制高輝度鹵素燈，搭配大口徑非球面透鏡，中心亮度最高可達60 萬 lux，光路規整、平行度優異，微弱瑕疵瞬間強化對比。

• 亮度與照射徑成平方反比，小光斑更高亮，按需調節不浪費光效。

2. 專業光學，精準成像

• 非球面透鏡優化設計，UIH?1/2/3 亮度型 F 值0.78–0.92，高亮聚光；UIH?1H 專用霧度檢測型F=2，聚焦成像，投射 3 條檢測標記，靠對比度精準判定晶圓霧度。

• 拋物面冷反光鏡，光效更高、散熱更優，長時間穩定工作。

3. 安全耐用，工業級可靠

• 燈箱與電源分體設計，散熱獨立、操作更安全。

• 強制空冷 + 過熱監控：UIH?2/3 型超溫自動熄燈，冷卻至 40℃自動停扇，全面保護光源與設備。

• 緩啟緩滅點燈邏輯，大幅延長燈泡壽命，最高輝度壽命50–75 小時，半輝度壽命最長1800 小時，降低使用成本。

4. 靈活適配，全場景覆蓋

• 照射徑、高度、角度自由可調，支架分自立型 (UIH?1/1H) 與獨立型 (UIH?2/3)，適配不同工位與檢測臺。

• SCR 相位控制調光，50/60Hz 自動適配，亮度寬幅可調，滿足不同材質與缺陷檢測需求。

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二、四大機型，精準匹配需求

表格

型號	功率	典型亮度	核心用途
UIH?1C/H	15V 150W	中心 60 萬 lux	通用微瑕疵 / 晶圓霧度專用檢測
UIH?2C	100V 300W	中心 40 萬 lux	中大面積光學件、玻璃檢測
UIH?3C	100V 650W	中心 30 萬 lux	大尺寸晶圓、面板、精密組件檢測

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三、一器多用，覆蓋全品類檢測

• 不透明鏡面體（晶圓 / 金屬 / 掩膜）：斜射查表面塵點、劃痕；反射查起伏、微裂紋。

• 透明材料（玻璃 / 透鏡 / 石英）：垂直 / 斜射，表面 + 內部缺陷同時觀測，微氣泡、雜質一目了然。

• 特殊場景：室內浮塵檢測、透明容器化學反應 / 混合狀態觀測、拋光晶圓霧度判定。

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四、為什么選擇 UIH 系列？

• 看得清：丁達爾效應 + 超高輝度，1μm 級微缺陷不再漏網。

• 用得穩：工業級溫控、緩啟緩滅、強制風冷，長期高負荷不掉鏈。

• 調得靈：多角度 + 寬幅調光，一臺滿足多材質、多工位檢測。

• 更省錢：長壽命光源 + 低維護，大幅降低質檢綜合成本。

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面向未來，以光守護品質

從半導體晶圓到光學鏡頭，從精密玻璃到高1端組件，UIH 系列以專業強光重新定義目視檢測標準，讓品質管控更簡單、更穩定、更高效。
選擇 UIH 系列，告別漏檢煩惱，提升良率與口碑，為你的精密制造筑牢品1質第1道防線！